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日本rikenkeiki 便攜式組合X射線分析儀 DF-01 1.XRD、XRF，同一點兩種分析。可以在同一點進行 X 射線衍射 (XRD) 和 X 射線熒光 (XRF) 兩種類型的分析。換句話說，可以從使用兩種不同測量方法獲得的數(shù)據(jù)中獲得高度準確的信息。 2.非破壞性、非接觸式便攜式分析設(shè)備。利用無損、非接觸的分析方法，我們可以分析那些限制移動或出口的文物和文化資產(chǎn)……即使是所謂的“禁止
更新時間：2024-08-30
日本 jfe膜厚分布測量裝置FDC-H1510 特征 1.能夠測量6英寸晶圓的整個表面 2.能夠以高分辨率（約5μm）測量整個樣品表面和局部厚度 3.緊湊的設(shè)計，可安裝在桌面上 4.基于高分辨率的局部測量 由于可以6um的高分辨率測量約3mm角，因此適用于需要局部測量的器件圖案上等膜厚分布測量。 5.最大6英寸的全面測量
更新時間：2024-08-29
日本konicaminolta分光光度計CM-36dGV 日本NIPPON DENSHOKU 光譜顏色濁度測量儀器 主要用于粉末、顏料、紙張、紡織品等的色彩管理。 可以同時測量顏色和光澤，同時保持與 CM-3610A 的數(shù)據(jù)兼容性（*使用 SCI/LAV 時） 使用場景：紡織/服裝
更新時間：2025-02-22
日本kitzsct半導體 低壓自動隔膜閥 KD系列 產(chǎn)品概述：低壓隔膜的旗艦型號，適用于半導體用高純度氣體。 參考型號：KD4CS-VC-EP-316L 規(guī)格概要 閥門形狀：直通二通閥 尺寸：1/4“ 最的低流體溫度（℃）：-10 最高流體溫度(℃)：80 最的低環(huán)境溫度（℃）：-10 最高環(huán)境溫度（℃）：60 最大工作壓力（MPa）：0.98 材質(zhì)：聚四氟乙烯
更新時間：2024-09-03
日本rikenkeiki便攜式氣體泄漏檢測儀SP-230 TYPE L 特征： ?配備LED燈/按鈕背光燈 ?一鍵在LED燈、警報聲音和警報點之間切換 ?配備Bluetooth®！用智能手機輕松管理數(shù)據(jù)，通過2m跌落測試，防護等級相當于IP67/本質(zhì)安全防爆結(jié)構(gòu)
更新時間：2024-08-29
日本rikenkeiki便攜式多種有毒氣體檢測儀SC-9000 特征 ?同時檢測多達3種有毒氣體 ?氣體傳感器保證長達3年 ?通過1.5m跌落測試，防護等級相當于IP66/68 ?配備Bluetooth®！通過智能手機輕松進行數(shù)據(jù)管理 - 本質(zhì)安全防爆結(jié)構(gòu)，可在防爆區(qū)域使用 - 連續(xù)使用時間：約 60 小時
更新時間：2024-08-29
日本tofco 用于液體｜差壓式流量計 DPF 通過測量與流量成比例的壓差來測量流量。集成了易于讀取的大流量顯示器，使現(xiàn)場確認變得容易。適用于中到大流量。 -該差壓式流量計上安裝了隔膜。 -由于顯示屏變大了，便于閱讀。 -在流向(如縱向和橫向)上可自由使用。 -15A~高達100A的產(chǎn)品線。
更新時間：2024-08-30
日本 jfe膜厚分布測量裝置 S系列標準型號 特征 1.2分鐘內(nèi)100萬至400萬點的高速測量和膜厚計算 2.可應(yīng)用于多種應(yīng)用，產(chǎn)品陣容豐富 3.適用于從研發(fā)到缺陷檢查 主要用途 薄膜模型：SiO2膜、濺射膜、抗蝕劑、液膜、油膜、涂膜 厚膜模型：各種晶圓、PET薄膜、其他薄膜、玻璃等。 超厚膜模型：各種晶圓、塊狀晶圓、薄膜、玻璃等。
更新時間：2024-08-29
日本add -120℃超低溫冷水機 CW-120-A 模型：CW-120-A 電氣規(guī)格 電源電壓（v）：三相AC200V（50/60Hz）功耗（kw）：3.0 功耗（kw）：3.0 性能規(guī)格：設(shè)定溫度范圍：-120至25℃ 控溫精度：±1.0℃以內(nèi)（工作風量100NLM時）最的低達到溫度：-120℃ at 100NLM 尺寸規(guī)格：外形尺寸（mm）：1373 x 550 x 80
更新時間：2024-09-02
日本konicaminolta分光光度計CM-36dGV 日本NIPPON DENSHOKU監(jiān)測器 濁度表色度計 主要用于粉末、顏料、紙張、紡織品等的色彩管理。 可以同時測量顏色和光澤，同時保持與 CM-3610A 的數(shù)據(jù)兼容性（*使用 SCI/LAV 時） 使用場景：紡織/服裝
更新時間：2025-02-22
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